泰克推出最新光學探頭和光模組

集微網消息, 日前, 泰克科技公司推出首款用於DPO70000SX系列即時示波器的光學探頭以及用於DSA8300採樣示波器的兩款最新光模組. 最新推出的59 GHz DPO7OE2單模光探頭與去年推出的33 GHz DPO7OE1相結合, 為調試400G PAM4元件及縮短產品開發周期提供了所需的性能和高級調試功能. 泰克還宣布加強對最新400G PAM4 TDECQ測量的支援, 推出4通道並行優化處理軟體, 實現高吞吐量製造測試.

在剛剛結束的OFC光網路和通信展覽會上, 泰克演示了DPO7OE2和DPO7OE1光學探頭, 最新模組和功能以及用於100G/400G光學表徵和驗證的全套解決方案.

據泰克科技公司介紹, 泰克提供的業界首個且獨有的支援PAM4的56 GBd即時解決方案, 正在引領數據中心下一代高速網路發展方向.

DPO7OE2為56GBd PAM4提供了ORR (光基準接收機)性能, 工程師可以使用強大的一整套調試功能, 迅速簡便地調試光器件, 包括PAM4和NRZ軟體時鐘恢複, 觸發, 錯誤檢測, 並能夠捕獲訊號的時間相關記錄或連續記錄, 進行離線分析. 它還擁有同類最優秀的光靈敏度和最低的雜訊, 可以適應PAM4低信噪比和通道效應. 同時, DPO7OE2還可以用於傳統NRZ應用.

專為56 GBd PAM4和NRZ開發的80C20和80C21 光模組當安裝在DSA8300採樣示波器中時, 僅提供了9µW的光學雜訊. 雙通道80C21使光學製造測試工程師可以把吞吐量和容量提高一倍. 如果器件未通過測試, 泰克將提供一套完善的增強型PAM4分析工具, 分解訊號中的雜訊和抖動成分, 幫助工程師了解底層問題.

為了滿足數據中心對更高頻寬的需求, 光通信行業正在迅速轉向400G和PAM4. 據泰克介紹, 由於信噪比較低, 訊號幅度降低以及測試次數增加10倍以上, 製造工程師面臨的挑戰是保持每個器件低測試成本. 而泰克提供的解決方案可以幫助工程師降低測試成本.

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