LAP總部於1984年成立於德國, 有著超過30年雷射器研發與生產經驗, 是雷射技術的先驅, 開發了單點雷射和線雷射在工業, 醫療領域的應用. 同時公司創始人還意識到了非接觸測量技術在工業應用中的需求. 開發了金屬製造與加工專用的測量系統. LAP公司致力於開發, 生產和銷售雷射劃線燈, 雷射定位投影儀和用於尺寸測量的雷射測量系統.
德國LAP公司的RDMS雷射測徑儀是專門用於棒, 線, 管材的熱態及冷態線上非接觸即時測量. 採用 '真實形狀' 測量技術, 測量不同的形狀, 為棒, 線, 管材工廠提高產品質量和自動化控制水平創造有利的條件. 提供1μm的解析度和最高達120 m/s的軋制速度下的線上測量. 提供兩種基本類型:RDMS900及RDMS180, 可以測量最大Φ80 mm和Φ160 mm的棒, 線, 管材的外徑尺寸. RDMS測徑儀採用雷射高速掃描, 全數字處理技術, 提供1μm的解析度和可靠的測量.
RDMS測徑儀採用雷射高速掃描, 全數字處理技術, 提供1μm的解析度和可靠的測量.
LAP-RDMS採用半導體雷射高速掃描, 陰影遮擋光電檢測. 將發射器(半導體雷射器)和接收器(光電檢測器)處在不同的分離小屋裡, 確保雷射微測量單元獲得最大清晰度, 同時把熱輻射對測量儀器的影響降到最低.
每個微測量單元包括一個單一雷射源, 旋轉多稜鏡, 發射透鏡, 接收透鏡及光電檢測器. 半導體雷射器發射的紅色雷射束, 經過旋轉鏡的旋轉反射到發射透鏡上. 由於旋轉反射作用, 使得單色雷射束以一定的速率掃描過整個發射透鏡, 經過透鏡折射成平行光束, 以225 m/s的速度掃過測量物體. 沒有被測量物體遮擋的雷射束直接經過接收透鏡投射到光電檢測器上, 形成電勢; 而被檢測物體遮擋的光線則沒有投射到光電檢測器上, 無電勢形成; 從而在光電檢測器上形成明暗不同的區域, 即明-暗-明, 而這之間的時間長度即為所測量物體一個軸向的直徑尺寸.
在實際應用中, RDMS提供4~ 6軸的測量, 因此可以得到整個斷面的尺寸和形狀. 同時雷射掃描頻率為400次/s, 足以應付最高達120 m/s的軋制速度; 由於採用全數字處理(DSP)技術, 使得系統的精度和響應大幅度提高, 可以每個300 mm給出一個完整的斷面. 正是由於掃描頻率高, 響應時間短, 保證在實際測量過程中不受軋制過程的振動, 衝擊和測量材料的偏心和抖動的影響, 提供達1μm的解析度.
RDMS測量系統採用緊湊的一體化抗環境幹擾系統設計, 測量高速軋制過程中棒, 線, 管材的外徑尺寸, 提供直觀的斷面尺寸和形狀顯示. 系統採用全數字處理技術, 在測量框架內完成檢測訊號的處理, 並將其變換成高解析度的數字訊號傳輸到PC控制櫃, 分析, 組合, 顯示, 傳輸到上位機.
系統由四個主要部分組成, 包括4~ 6組雷射微測量單元的測量框架; 空氣吹掃冷卻裝置; 顯示, 控制, 通訊終端, 校正.
RDMS測量框架採用全退火鋼結構焊接, 以獲得最大限度的穩定性. 各雷射微測量單元通過連接統一供電, 連接器位於框架的邊緣, 所有的電線都在框架裡面. 通過152 mm管連接, 冷空氣吹入架內, 清潔感測器窗口, 避免熱壓的影響.
LAP-RDMS測徑儀的優點
1)雷射多軸測量, 解析度為1μm.
2)無旋轉部件, 如無滑環, 軸承, 密封等的磨損.
3)使用壽命長達30 000~ 100 000 h.
4)高冗餘設計, 即使一軸發生故障, 也能工作.
5)快速測量, 是採用CCD技術的7~ 20倍, LAP雷射測量為24~ 75μs, CCD為500μs.
6)最高測量溫度可達1 300℃(用於特種鋼).
7)以WINDOWS NT或WINDOWS 2000為平台, 進行即時數據顯示.
8)可測量直徑及長度, 可檢測軋輥偏心, 軋材缺陷等.
9)空氣吹掃設計, 不存在泄漏, 泥漿等在水冷法常見的問題.
10)系統自帶過濾及吹風裝置, 提供清潔的空氣和系統的內部清潔.
11)無需空氣壓縮和過濾乾燥單元, 全部耗電功率小於4 kW.
LAP已發展用於測量初軋圓坯, 方坯, 扁坯的RDMS-530系統, 這創造性的系統為初軋廠提高產品產量, 質量和自動化控制水平提供可能. 其解析度保持在小於1μm, 系統的測量靈活性大大增加.
隨著機械, 電子, 光學產業的迅速發展, 雷射測量系統所幫助解決的問題的多樣性和日趨複雜, 新型雷射系統在不斷地發展起來了, 它們的成本和開發時間也在持續增加, 同時對工件參數的精度要求也越來越高, 傳統的測量方法已不能夠實現各方面的需求. 雷射測徑儀也就應運而生了, 總體來說, Lap雷射測徑儀的使用為被測物的測量帶來了巨大的便利. 能夠實現高精度即時檢測, 提升自動化程度, 減少人工勞動強度.