Réfléchir avant de route 5G ...

Nous voyons vraiment le réseau 5G et le téléphone mobile avant, vous devez d'abord changer ses plaquettes fabriquées usine de fabrication de semi-conducteurs, les ingénieurs de test doivent comprendre comment tester, ainsi, les concepteurs combinés doivent savoir comment déplacer les gens comme De plus, les produits sans fil doivent également être en mesure de vendre à des prix quasi-abordables: ce sont les sommets 5G qui ont eu lieu récemment au International Microwave Symposium (IMS) 2018. Participants du Sommet).

Bien qu'il y ait eu une certaine puce 5G a été trouvé, mais exactement ce que la technologie processus à utiliser pour produire un amplificateur de puissance (PA) et les antennes réseau à commande de phase, encore incertain pour l'Autorité palestinienne, de participer à « la radio à ondes millimétriques de téléphone intelligent: la les 2 prochaines, 5, 10 ans ... « (ondes millimétriques radios dans les smartphones: ce qu'ils ressembleront à 2, 5, 10 ans) membres du colloque ont discuté de la soi-disant » processus de famille IV » --- tels que le silicium et CMOS le germanium, et le processus de « groupe III-V » ¬¬-- comprend le phosphure d'indium (InP), l'arséniure de gallium (GaAs) et analogues. Elément IV se réfère à un groupe de 14 lignes du tableau périodique (tableau périodique), tandis que III- La famille V est l'élément des lignes 13 et 15.

L'Institut national des normes et de la technologie (Institut national des normes et de la technologie, NIST) Dylan Williams Electronics Engineers, National Instruments (NI) ingénieurs R & D Amarpal Khanna est l'hôte de ce symposium Williams a souligné, le phosphure d'indium à haute fréquence. (ci-fréquence présente ondes millimétriques) au-delà de la performance CMOS PA, mais CMOS est inférieur à 6GHz victoire. Cependant, l'Université de Columbia (Columbia University) professeur agrégé de génie électrique Harish Krishnaswamy dit que par rapport au processus CMOS, en utilisant un III-V processus plus efficace pour créer un circuit. en outre, la technologie Lockheed Martin à long Deveraux Palmer a ajouté, « groupe d'aujourd'hui processus III-V ne peut pas être commuté à une vitesse élevée, » ce qui conduit à une utilisation limitée.

Cependant, Williams a demandé:? Efficacité si important pour vous «Crux réside dans l'endurance du téléphone doit être en mesure de supporter au moins un demi-journées après chaque charge complète, permet aux utilisateurs même avant d'aller dormir la nuit pour oublier de charger le téléphone le lendemain, le téléphone encore utilisation normale ou le matin avant de charger.

Sommet IMS 5G parler avec les gens (de gauche à droite): Tim LaRocca Northrop Grumman chef de projet de planification avancée, Maja systèmes de la technologie Joy Laskar, Gary St. Onge, vice-président du marketing Anokiwave, professeur agrégé de génie électrique à l'Université de Columbia Harish Krishnaswamy, Lockheed Martin Chief Technology Officer dev Palmer, vice-président Straighpath technologie des communications Farshid Aryanfar, Université de Californie, San Diego (USCD) professeur invité Walid Ali-Ahmad, ainsi que les présentateurs de colloques - instruments nationaux (NI) R & ingénieurs D Amarpal Khanna et NIST ingénieur en électronique Dylan Williams.

« Les fréquences supérieures à 6GHz ont besoin des percées technologiques. » MACOM vice-président et architecte en chef Anthony Fischetti dit dans une séance d'information plus tard: «III-V processus CMOS et différents GaAs de puissance des fréquences inférieures à 6 GHz trop » Fischetti expliqué sa compagnie MACOM comment répondre à ces différents procédés, par exemple, les pratiques, et est actuellement MACOM STMicroelectronics (STMicroelectronics, ST) la coopération, un processus de nitrure de silicium (GaN) pour produire une fréquence radio (RF) Bien que cet élément.. processus réalisable, mais le nombre requis pour la production est encore irréaliste. l'équipement requis n'est pas atteint pas très cher. il a souligné MACOM actuellement en service autour de l'horloge vue fabuleux, une semaine peut faire sur des tranches CMOS 50000. et si cela peut être réalisé avec des tranches de fabrication des équipements d'aujourd'hui GaN (III-V), l'entreprise prend environ un mois pour produire la même quantité. « utilisant le procédé fab III-V doit être modifié afin que dès que possible processus CMOS pour atteindre l'échelle d'aujourd'hui.

Fischetti a également noté, processus III-V pour être économiquement viable, il ne peut pas reproduire la plaquette (plaquette retravaillé). La qualité doit devenir une partie du processus. En outre, doit également utiliser une lithographie optique des images capturées à des couches de cristal sur un cercle. faisceau d'électrons de vitesse de lithographie (e-beam) ralentir un autre problème procédé III-V se trouve pas dans l'absence d'une couche d'élément de chambre or, le personnel ne peut pas porter la montre en or et des bijoux en or .

En plus de 5G apportera des problèmes de processus, on examine toujours des défis. Ce symposium, Maja Systems directeur de la technologie Loy Laskar a dit qu'environ 80-90% de la facture des matériaux (BOM) le coût peut provenir de l'assemblage IC et d'essais.

Bien que les circuits d'essai et les systèmes destinés aux applications militaires utilisent des processus spéciaux, le spectre mmWave et les antennes réseau à balayage électronique, mais leur nombre n'est pas important, ces tests sont assez difficiles pour les appareils grand public avec un grand nombre d'exigences. Charles Schroeder, vice-président du marketing, Roger Nichols, chef de projet global 5G chez Keysight Technologies, a souligné plusieurs défis de test 5G, dont le plus évident est la nécessité d'utiliser l'OTA pour les tests. Composants hautement intégrés (antenne PA et antenne à balayage électronique) Système mmWave Mais les tests OTA ont un impact sur les temps de test de production, et les équipements de test doivent avoir la capacité de gérer ces charges de travail.

Schroeder a souligné que le traitement du signal plus grande largeur de bande de fréquence d'ondes millimétriques apporte, nécessite énorme puissance de calcul et beaucoup de temps. À l'heure actuelle, les ingénieurs de test ne savent pas s'ils ont besoin processeur de classe PC, FPGA ou GPU pour traiter le signal. Cette Besoin de repenser certaines des façons dont les signaux sans fil sont actuellement gérés.

D'autres questions de la bande passante élevée, car la bande passante est assez large - Impédance probablement 100MHz, la voie de transmission peuvent être différents systèmes de test doivent être conscients de cela et être rémunérés en conséquence.

Nichols la discussion des questions d'examen et problèmes signalés champ proche et champ distant. « Test OTA champ lointain peut être considéré comme plus difficile que le champ proche. Cependant, il y a en fait deux compromis. Performance dans le champ lointain, champ électromagnétique mieux Par exemple, cette fois plus proche de la définition classique d'une verticale de champ E, H-champ et le Poynting vecteur (le Poynting). provoque une perte de signal de test en champ lointain est plus difficile et la taille de la chambre anéchoïque. dans le champ proche, le défi est obtenir la relation précise entre le comportement de l'antenne et l'amplitude du signal de détection et de phase. en outre, la courte longueur d'onde ondes millimétriques, en raison de l'inverse du champ proche de transformation en champ lointain (NF / FF) longueur d'onde, de sorte que plus la longueur d'onde, de NF / FF plus la distance entre la conversion.

Nichols a souligné: « faire ce que les gens sont très aléatoires, comme un téléphone mobile. » Ce mouvement aléatoire est pas un problème, parce que la conception de l'antenne est omnidirectionnelle Toutefois, afin de réduire la consommation d'énergie 5G et par étapes. faisceau antenne réseau de direction deviendra la norme. cela forcera le test doit être effectué dans des directions différentes, le système de test doit vérifier le téléphone, parce que le téléphone continuera à suivre sa direction et régler le faisceau en conséquence. le plus important est la nécessité de réduire non testé certitude Nichols dit: « avant de pouvoir obtenir la vérification de numérique, vous ne pouvez pas déterminer comment son efficacité opérationnelle. »

Compiler: Susan Hong

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