MVG将携5G和IoT测试解决方案闪耀2018 EDI CON

天线测试测量系统的制造生产厂商法国Microwave Vision Group, 在2018年3月20日至22日于北京国家会议中心召开的电子设计创新大会(EDI CON China 2018)期间, 将举办物联网 (IoT) 设备测试研讨会, 并在主办方举办的5G座谈会上就毫米波与OTA测试发表技术演讲. 与此同时, MVG还将在展台举办虚拟现实的体验活动, 让现场观众能实地一睹MVG为波兰著名雷达和国防设备生产商Pitradwar 打造的3120立方的巨型暗室, 并通过VR视频, 了解, 体验MVG的技术实力与成果.

当下, 物联网的发展给所有的行业和市场都带来了冲击和影响. 对于物联网设备而言, 主要测试挑战就在于如何确保无线连接性能如预期般运作, 因为相同的天线应用在不同的产品上, 其性能也会不同. 天线性能是需要进行优化和控制的主要因素. 同时, 掌握无线连接技术的关键也在于了解专为物联网优化的新协议, 如NB-IoT, LoRa, Sigfox, LTE-M以及5G, 从而能针对不同的产品和技术要求运用正确的工具和测试方法.

针对物联网设备测试, MVG已推出一系列的测试产品. MVG将在此次展会期间举办研讨会, 以 '如何选择协议和OTA测试解决方案, 成功实现物联网设备中的无线连接' 为主题, 介绍物联网的协议选择, 并针对不同协议和产品类别 (从700MHz到18GHz, 甚至50 GHz毫米波频段) 以及贯穿产品生命周期阶段的测试解决方案, 其中, 会针对MiniLab I 6 GHz OTA进行详细介绍.

另外, 在此次展会期间, 由微波杂志主办的5G毫米波OTA测试专家论坛将与听众互动, 共同探讨如何测量3D窄波束传播环境, 其特定挑战和潜在解决方案. MVG亚太地区技术总监Mathieu Mercier将就5G毫米波OTA测试发表技术演讲, 介绍毫米波测试中使用的NF和FF前沿技术, 并就OTA测试中的未来进一步进展的方向发表看法.