소니, 최초의 픽셀 병렬 ADC 고밀도 후면 조명 CMOS 이미지 센서 출시

마이 무시 (Musi) 컨설팅 보고서에 따르면, 소니는 글로벌 셔터 기능이있는 146 만 화소이면 조사 CMOS 이미지 센서의 개발을 발표 최근있다. 픽셀 병렬로 새롭게 (픽셀 아래에있는) ADC 개발 (아날로그 - 이하 ADC라고 - 디지털 컨버터), 디지털 신호로 병렬 아날로그 신호의 순간 노출을 동시에 할 수있는 모든 픽셀이.이 새로운 기술은 미국 샌프란시스코 2 월 11, 2018 년에 연례 컨퍼런스 ISSCC (국제 고체 회로를 출시) .

종래의 CMOS 이미지 센서 ADC 방식을 사용하는 컬럼 레벨은 일반적으로 광전 변환을 통해 화소로부터의 아날로그 신호를 프로그레시브 판독하고, 프로그레시브 판독 시간 드리프트 초래 종종 이미지 왜곡 (초점 평면의 왜곡을) 초래한다.

소니의 새로운 CMOS 이미지 센서는 각 픽셀 아래에 새롭게 개발 된 저 전류 소형 ADC를 포함하고있어 디지털 신호에 동시에 노출되는 모든 아날로그 신호를 즉시 디지털 메모리로 변환하고 디지털 메모리에 임시 저장합니다 이 아키텍처는 시간 드리프트로 인한 이미지 왜곡을 없애고 글로벌 셔터 기능을 지원하므로 픽셀 병렬 ADC를 갖춘 업계 최초의 메가 픽셀 고밀도 후면 조명 CMOS 이미지 센서가됩니다.

이 새로운 CMOS 이미지 센서는 기존 칼럼 레벨 ADC 솔루션에 비해 거의 1000 배의 ADC 수를 포함하고있어 현재 수요가 크게 증가했다. 소니는 새로 개발 된 소형 14 비트 ADC로 문제를 해결했으며, 이 새로운 ADC는 저 전류 동작에서 업계 최고의 성능을 제공한다.

새로운 CMOS 이미지 센서의 ADC와 디지털 메모리는 모두 상단 칩의 각 픽셀과 2016 년 1 월에 Cu-Cu (구리 - 구리) 인터커넥트를 사용하여 하단 칩에 스택되어 있으며, 대량 생산 실현.

또한 소니는이 CMOS 이미지 센서를위한 새로운 데이터 전송 아키텍처를 개발하여 ADC 처리에 필요한 데이터를 고속, 대규모로 판독 할 수 있도록했다.

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