Сотрудники кафедр микроэлектроники и наноэлектроники Московского государственного политехнического института при Российском государственном университете ядерной науки и технологии предложили новое техническое решение для прогнозирования отказа микросхем, интегрированных в космос.
Современные метеорологические спутники, спутники связи и спутники наблюдения Земли должны находиться на орбите не менее 10 лет - 15 лет, причиной которых является, как правило, отказ от бортового электронного оборудования. Теперь размер компонентов интегральных схем снижается до наномасштабного масштаба, что привело к множеству сбоев, Например, космическая частица может одновременно вызвать ошибки в нескольких логических элементах или ячейках памяти, что может привести к повреждению или необратимому повреждению.
Чтобы решить эту проблему, исследовательская группа придумала новый метод, который может обрабатывать результаты наземных испытаний и вычислять частоту возникновения сбоев, а также может технически и программно прогнозировать недавно разработанные современные нано-интегральные схемы, чтобы эффективно избегать Его многочисленные неудачи в космосе.
