L'Université de l'Illinois utilise les instruments Tektronix pour équiper des laboratoires de nanoproduits

Tektronix a annoncé l'achat de trois analyseurs paramétriques Keithley 4200A-SCS et de trois 4200A-CVIV pour le département de génie électrique et informatique de l'université de l'Illinois à Urbana-Champaign, premier fournisseur mondial de solutions de mesure. Module de commutation de fonction pour le premier laboratoire de nano-traitement de premier cycle, conçu pour fournir aux étudiants une expérience pratique micro-nano 4200A-SCS est un analyseur paramétrique modulaire entièrement intégré pour les matériaux, les dispositifs semi-conducteurs Et le processus des caractéristiques électriques de l'essai 4200A-CVIV fournit une méthode de faux test, la mesure DC et AC entre la réalisation de l'interrupteur, et la mesure AC à l'appareil de test à n'importe quel terminal.

L'Université de l'Illinois construit un laboratoire de nano-fabrication, le bâtiment Asti ECE, d'une superficie de 230 000 pieds carrés et plus de 20 laboratoires fournissant une formation pour les opérations électroniques et informatiques aux étudiants du laboratoire de fonderie de nano-fabrication. Le 4200A-SCS est choisi parce que l'équipement que vous voulez acheter peut être immédiatement utilisé, minimisant ainsi la formation des étudiants et des nouveaux utilisateurs.Le dernier 4200A-SCS met en évidence la facilité d'utilisation et les fonctionnalités suivantes:

• La vidéo du guide de mesure des cours YouTube, y compris le chinois, l'anglais, le japonais et le coréen, décrit comment configurer, exécuter et déboguer le test et inclut une variété de guides d'application et de webinaires • Plus de 450 éléments utilisables à tout moment Applications et dispositifs pour améliorer rapidement le travail de développement du plan de test • Développement de plan de test de visualisation et test d'outils de tri • Contrôle de confiance intégré, l'utilisateur peut s'assurer que la sonde entre en contact avec le tampon

«Le Keithley 4200A-SCS offre une combinaison idéale de fonctionnalité de test paramétrique avancée et de facilité d'utilisation», explique Dane Sievers, un nouvel instructeur et coordinateur de laboratoire «En fait, le fonctionnement de l'instrument est très intuitif et facile à comprendre. Même sans entraînement.

Le 4200A-SCS comprend les éléments suivants: une unité de mesure de source pour la caractérisation IV, un module capacitance-tension pour la mesure d'impédance AC, une unité de mesure d'impulsions ultrarapide pour effectuer des mesures d'impulsion IV, de capture d'onde et transitoire. Avec le 4200A-SCS, les chercheurs ou les ingénieurs peuvent tester des paramètres clés pour répondre à des besoins de recherche de matériaux, de conception de dispositifs à semi-conducteurs, de développement ou de production.

"Nous avons fait beaucoup de travail, même s'il n'y a pas d'expérience de l'analyseur de paramètres avant l'utilisateur, 4200A-SCS est aussi très simple et facile à apprendre." Mike Flaherty, directeur de la ligne technologique de Tektronix La facilité d'utilisation de SCS le rend particulièrement adapté aux applications telles que les laboratoires de semi-conducteurs en construction à l'Université de l'Illinois, ainsi que la recherche de dispositifs semi-conducteurs, l'analyse des défaillances et les tests de fiabilité.